考种分析仪
来因科技考种分析仪采用高拍/背光成像与图像识别软件，对水稻、小麦、玉米、大豆等籽粒自动计数，并测算粒长、粒宽、粒厚、长宽比、面积、周长、圆度、颜色和千粒重；玉米可扩展穗长、穗粗、秃尖、穗行数、行粒数等果穗参数。 软件支持粘连粒分割、杂质和破损粒剔除，结果可输出Excel并留档图像，适用于育种筛选、品种审定、种子质检和高校教学。公司依托研发中心和生产线持续优化标定与分割算法，可按小批量教学、中型种子检测、科研高通量分别配置不同像素、光源和进样方案，减少人工考种误差，提升表型数据采集效率。
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